Universeel of specifiek meten?

Precision-technology
Mikroniek 5-1991 by Dr.ir.ing.J.W. van Beek 27 April 2006

Kwalitatieve overwegingen bii de keuze tussen een universeel meetinstrument en een aantal specifieke meetinstrumenten. Onder invloed van de schier onbe- grensde mogeliikheden van de Personal Computer voor de verwerking van meetgegevens tekent zich een ten- dens af naar meetinstrumenten waar- mee meer mogelijk is dan voorheen. ?Universeel?, heten zulke instrumenten al gauw. De vraag is hoe universeel dat dan wel is, en vooral, wat per saldo hun nauwkeurigheid is. Vele kleine nauwkeurigheden maken namelijk niet samen ??n grote.


References

A flexible way to reflect…

The W.M. Keck Observatory telescopes on Hawaii are receiving upgrades that include an Adaptive Secondary Mirror (ASM) and the Keck Wide Field Imager (KWFI).

Read more
AI-driven visual inspection of photonic…

In the rapidly evolving field of photonics, the integrity of photonic wafers is paramount to the performance and reliability of optical devices.

Read more
Designing better with additive manufacturing

In the area of precision engineering – where tolerances are measured in microns or even nanometers – additive manufacturing (AM) offers a new level of possibility.

Read more