Universeel of specifiek meten?

Precision-technology
Mikroniek 5-1991 by Dr.ir.ing.J.W. van Beek 27 April 2006

Kwalitatieve overwegingen bii de keuze tussen een universeel meetinstrument en een aantal specifieke meetinstrumenten. Onder invloed van de schier onbe- grensde mogeliikheden van de Personal Computer voor de verwerking van meetgegevens tekent zich een ten- dens af naar meetinstrumenten waar- mee meer mogelijk is dan voorheen. ?Universeel?, heten zulke instrumenten al gauw. De vraag is hoe universeel dat dan wel is, en vooral, wat per saldo hun nauwkeurigheid is. Vele kleine nauwkeurigheden maken namelijk niet samen ??n grote.


References

Call for abstracts! DSPE Conference…

The call for abstracts is open until 15 February 2025.

Read more
Lunch lecture November hosted by…

The title of this lunch lecture is: Potential of fault diagnosis and predictive maintenance for precision mechatronics

Read more
QUADRA: metrology for the ongoing…

The semiconductor roadmap is currently fuelled by innovations along three trends

Read more