Universeel of specifiek meten?

Precision-technology
Mikroniek 5-1991 by Dr.ir.ing.J.W. van Beek 27 April 2006

Kwalitatieve overwegingen bii de keuze tussen een universeel meetinstrument en een aantal specifieke meetinstrumenten. Onder invloed van de schier onbe- grensde mogeliikheden van de Personal Computer voor de verwerking van meetgegevens tekent zich een ten- dens af naar meetinstrumenten waar- mee meer mogelijk is dan voorheen. ?Universeel?, heten zulke instrumenten al gauw. De vraag is hoe universeel dat dan wel is, en vooral, wat per saldo hun nauwkeurigheid is. Vele kleine nauwkeurigheden maken namelijk niet samen ??n grote.


References ...

Knowledge day: “AI & (mechanical) Design”

Learn how AI in Engineering develops at ASML, Sioux and TU/e

Read more
Wim van der Hoek’s Design Principles – Applying and Extending his Legacy

During the 2026 Precision Fair in Den Bosch (NL) on Thursday, November 19, 14:00-16:10h, DSPE will host the “Wim van der Hoek’s Design Principles – Applying and Extending his Legacy” colloquium.

Read more
DSPE Opto-Mechatronics Symposium 2026

The seventh edition of the DSPE Opto-Mechatronics Symposium will take place on 8 October 2026. This year’s theme is ‘The opto-mechatronics of telescopes: from tiny to extremely large’.

Read more