Ultrasnelle fotografie of ‘tijdmicroscopie’

Optics
Fotonica nr. 3, 1989 by E. Kaptein 27 April 2006

Ultrasnelle fotografie of ‘tijdmicroscopie’ is belangrijke fysische meetmethode voor het kwantitatief en kwalitatief analyseren van snel verlopende verschijnselenen handelingen. Men neemt hierbij een serie opvolgende beelden op met een hogere beeldfrequentie dan normaal. Bij afdraaien op normale projectiesnelheid doet zich dan een vertraging van het verschijnsel voor, waardoor details aan het licht komen die met het blote oog niet waarneembaar zijn. Verschillende cameratypen worden hier besproken.


References

Our DSPE chairman Hans Krikhaar…

๐—ช๐—ฒ ๐—ฎ๐—ฟ๐—ฒ ๐—ฝ๐—ฟ๐—ผ๐˜‚๐—ฑ ๐˜๐—ผ ๐—ฎ๐—ป๐—ป๐—ผ๐˜‚๐—ป๐—ฐ๐—ฒ ๐˜๐—ต๐—ฎ๐˜ ๐——๐—ฆ๐—ฃ๐—˜ ๐—ฃ๐—ฟ๐—ฒ๐˜€๐—ถ๐—ฑ๐—ฒ๐—ป๐˜ ๐—›๐—ฎ๐—ป๐˜€ ๐—ž๐—ฟ๐—ถ๐—ธ๐—ต๐—ฎ๐—ฎ๐—ฟ ๐—ต๐—ฎ๐˜€ ๐—ฟ๐—ฒ๐—ฐ๐—ฒ๐—ถ๐˜ƒ๐—ฒ๐—ฑ ๐—ฎ ๐—š๐—ฒ๐—ฟ๐—ฎ๐—ฟ๐—ฑ & ๐—”๐—ป๐˜๐—ผ๐—ป ๐—›๐—ถ๐—ด๐—ต ๐—ง๐—ฒ๐—ฐ๐—ต ๐—ฆ๐˜๐—ฎ๐—ฟ ๐—”๐˜„๐—ฎ๐—ฟ๐—ฑ ๐Ÿฎ๐Ÿฌ๐Ÿฎ๐Ÿฒ!

Read more
Lunch lecture February hosted by…

Title: Piezoelectric wafer stage โ€“ for electron beam inspection systems

Read more
Sensitivity analysis in Opto-Mechanical System…

As a mechatronics engineer at VDL ETG Technology & Development in Almelo (NL), Leon Nijenhuis got involved with opto-mechanics when working on aerospace projects. One of his duties was the design of an alignment tool for laser satellite communication.

Read more