Susan meet sneller, nauwkeuriger en met hogere resolutie

Electronics Medical technology Precision-technology
Mikroniek 3-2006 by Hans Koopmans 1 July 2007

IBS Precision Engineering heeft onder de naam Susan (SUperwafer Surface ANalysis) een machine ontwikkeld voor het tweezijdig meten van siliciumwafers. De machine, gebaseerd op capacitieve meettechnologie, meet van wafers tot 300 mm eigenschappen als warp, bow en dikte. Susan is aanzienlijk sneller en nauwkeuriger dan bestaande machineconcepten dankzij luchtlagering. Haar modulaire structuur biedt ruimte voor een optionele hoge-resolutiesensor voor het meten van de oppervlakteruwheid.


References

Call for abstracts! DSPE Conference…

The call for abstracts is open until 15 February 2025.

Read more
Lunch lecture November hosted by…

The title of this lunch lecture is: Potential of fault diagnosis and predictive maintenance for precision mechatronics

Read more
QUADRA: metrology for the ongoing…

The semiconductor roadmap is currently fuelled by innovations along three trends

Read more