Sub-nanometer interferometrie

Electronics Micro system technology MEMS/NEMS Optics
IOP by Rob Bergmans 12 November 2008

Laserinterferometers en lineaire meetsystemen hebben een resolutie op nanometer- of zelfs subnanometer niveau. Waarschijnlijk is hun werkelijke nauwkeurigheid zelfs een factor tien hoger, maar dat kon tot nu toe niet worden bepaald. Het IOP-project Sub-nanometer interferometrie heeft dat probleem opgelost. Met de resultaten zijn zowel bedrijven als onderzoekers zeer tevreden.


References

Lunch Lecture January hosted by…

The title is: Frame deformations control based on reduced order thermo-elastic models

Read more
Company visit YPN at Settels…

Our next company visit has been confirmed and will take place at Settels Savenije, located in Eindhoven, on Tuesday 17th of December. A perfect opportunity for networking just before Christmas.

Read more
Jan-Pieter Rijstenbil (TU Eindhoven) receives…

Prize for careful process analysis and early validation. During the 23rd edition of the Precision Fair in Den Bosch (NL), the Wim van der Hoek Award was presented under the auspices of DSPE (Dutch Society for Precision Engineering).

Read more