Record-resolutie van 0,5 Ångström

Electronics Precision-technology
Mikroniek 5 2007 by 9 December 2008

De hoogste resolutie ooit in (S)TEM-elektronenmicroscopie-beelden is behaald met een nieuw instrument dat is ontwikkeld door een samenwerkingsverband van FEI Company in Eindhoven, laboratoria van het Amerikaanse Department of Energy (DoE) en het Duitse CEOS. Deze doorbraak in de elektronenmicroscopie – waarbij structuren zichtbaar zijn gemaakt van 0,5 Ångström en kleiner – is het resultaat van het TEAM-project (Transmission Electron Aberration-corrected Microscope) van DoE.


References

DSPE appoints Martin van den…

Upon his retirement from ASML, Martin van den Brink was appointed honorary member of DSPE.

Read more
High-velocity innovation

Making crucial design decisions early in the concept phase of a project, may lead to severe cost and time overruns when these decisions are based on assumptions and/or incomplete knowledge.

Read more
Hybrid variable-reluctance actuator technology on-sky

Astronomers use deformable mirrors to improve the image of a telescope by correcting for the optical distortions caused by atmospheric turbulence.

Read more