Picodriftmeter en verplaatsingsinterferometrie – Summary

Precision-technology Sensors
IOP by Rob Munnig Schmidt, Dario Lo Cascio 28 October 2010

De lengtemeettechniek is zo ver geëvolueerd, dat hinder ontstaat door onbedoelde beweging – drift – op picometerniveau. Het IOP-project Picodriftmeter ontwikkelde een platform om deze picodrift te kunnen meten en een frequentiegestabiliseerde 3-frequentielaser. Daarbij is nauw samengewerkt met de onderzoekers van het gelijktijdig uitgevoerde IOP-project Verplaatsingsinterferometrie met sub-nanometer onzekerheid. Dit project – een vervolg op het eerder in Eindhoven uitgevoerde IOP-project Sub-nanometer interferometrie – resulteerde in een compacte laserinterferometer zonder periodieke fouten (< 20 pm) en met een dubbele resolutie dan een standaardinterferometer; op het ontwerp is patent aangevraagd. Andere resultaten zijn een redesign voor een vier keer zo korte Fabry-Pérot cavity en een gestabiliseerde lasergolflengtebron, die zich automatisch aanpast aan de veranderende brekingsindex in lucht.


References

Picometer drift and microrad reproducibility

At the end of May, Settels Savenije hosted a DSPE Knowledge Day dedicated to challenges in nanometrology.

Read more
Order of frictions and stiffnesses…

For lumped systems consisting of different frictions and stiffnesses, there has been confusion in literature about hysteresis curves and virtual play for many decades.

Read more
Make it clean

In mid-April, the second edition of the Manufacturing Technology Conference and the fifth edition of the Clean Event were held together, for the first time, at the Koningshof in Veldhoven (NL).

Read more