Picodriftmeter en verplaatsingsinterferometrie – Summary

Precision-technology Sensors
IOP by Rob Munnig Schmidt, Dario Lo Cascio 28 October 2010

De lengtemeettechniek is zo ver geëvolueerd, dat hinder ontstaat door onbedoelde beweging – drift – op picometerniveau. Het IOP-project Picodriftmeter ontwikkelde een platform om deze picodrift te kunnen meten en een frequentiegestabiliseerde 3-frequentielaser. Daarbij is nauw samengewerkt met de onderzoekers van het gelijktijdig uitgevoerde IOP-project Verplaatsingsinterferometrie met sub-nanometer onzekerheid. Dit project – een vervolg op het eerder in Eindhoven uitgevoerde IOP-project Sub-nanometer interferometrie – resulteerde in een compacte laserinterferometer zonder periodieke fouten (< 20 pm) en met een dubbele resolutie dan een standaardinterferometer; op het ontwerp is patent aangevraagd. Andere resultaten zijn een redesign voor een vier keer zo korte Fabry-Pérot cavity en een gestabiliseerde lasergolflengtebron, die zich automatisch aanpast aan de veranderende brekingsindex in lucht.


References

QUADRA: metrology for the ongoing…

The semiconductor roadmap is currently fuelled by innovations along three trends

Read more
Damping position-dependent parasitic vibrations

Parasitic resonances are often limiting the performance of precision machinery.

Read more
Reducing noise and vibrations

Acoustics play a critical role in product development across various engineering domains, significantly impacting both functionality and user experience.

Read more