Opto-elektronisch meten van driedimensionale vormen

Optics Sensors
Mikroniek 4-1994 by A.M.F.Wegdam, R.Visman, O.Podzimek 27 April 2006

De verscherping van eisen aan de industriele produkten bij toenemende concurrentie en scherper wordende wetgeving met betrekking tot produktaansprakelijkheid, dwingen tot doelmatige produktie en kwaliteitsbeheersing van het hele fabricage proces. Betrouwbaarheid, nauwkeurigheid, snelheid, automatiseerbaarheid en vastleggen van gegevens worden daardoor voor de produktie en kwaliteitsbewaking onontbeerlijke kenmerken. In het licht van deze trend is het niet verwonderlijk dat snelle contactloze en robuuste – dat wil zeggen storingsbronnen ongevoelige methoden voor het meten van driedimensionale vormen in de industrie steeds belangrijker worden.


References ...

Mikroniek April 2026: Developments in…

The April issue of Mikroniek presents developments in dynamics. The main theme article introduces a bouncing stage concept that can circumvent actuator-force limits in precision positioning.

Read more
Young DSPE visits QED Technologies

The next Young DSPE company visit will take place at QED Technologies. Delft on Thursday 28th of May 2026.

Read more
Lunch lecture June hosted by…

The NASA IRTF Adaptive Secondary Mirror. Speaker: Arjo Bos, Senior Scientist & Expertise Lead Optomechanics

Read more
Intellectual property for engineers

Engineers working in high-tech solve complex technical problems every day. New algorithms, control strategies, hardware architectures, production methods and software tools are constantly being developed inside engineering teams.

Read more