Opto-elektronisch meten van driedimensionale vormen

Optics Sensors
Mikroniek 4-1994 by A.M.F.Wegdam, R.Visman, O.Podzimek 27 April 2006

De verscherping van eisen aan de industriele produkten bij toenemende concurrentie en scherper wordende wetgeving met betrekking tot produktaansprakelijkheid, dwingen tot doelmatige produktie en kwaliteitsbeheersing van het hele fabricage proces. Betrouwbaarheid, nauwkeurigheid, snelheid, automatiseerbaarheid en vastleggen van gegevens worden daardoor voor de produktie en kwaliteitsbewaking onontbeerlijke kenmerken. In het licht van deze trend is het niet verwonderlijk dat snelle contactloze en robuuste – dat wil zeggen storingsbronnen ongevoelige methoden voor het meten van driedimensionale vormen in de industrie steeds belangrijker worden.


References

Lunch Lecture December hosted by…

Due to private circumstances the lunch lecture will be cancelled today. More information about when we organize this lecture again will follow soon.

Read more
Company visit YPN at Settels…

Our next company visit has been confirmed and will take place at Settels Savenije, located in Eindhoven, on Tuesday 17th of December. A perfect opportunity for networking just before Christmas.

Read more
Jan-Pieter Rijstenbil (TU Eindhoven) receives…

Prize for careful process analysis and early validation. During the 23rd edition of the Precision Fair in Den Bosch (NL), the Wim van der Hoek Award was presented under the auspices of DSPE (Dutch Society for Precision Engineering).

Read more