Optische scanners met detector-arrays

Optics Sensors
Mikroniek 3-1987, I2-Elektrotechniek/Elektronica, no. 7/8-1985 by C.Smorenburg, J.W.Klumpe 27 April 2006

Sinds de ontwikkeling van de optische detector-arrays worden deze detectoren in toenemende mate toegepast. Hierbij kan men constateren, dat de klassieke manier van scannen, waarbij met behulp van een roterende spiegel een voorwerp wordt afgetast, steeds meer plaats maakt voor het elektronisch scannen. Een bijkomende ontwikkeling die het gebruik van elektronische scanners bevordert, is de toenamen van computersysytemen, waardoor een snelle verwerking van gorte hoeveelheden meetgegevens steeds eenvoudiger wordt. Men kan hierbij denken aan industriele toepassingen, zoals het opmeten van voorwerpen (controle van kwaliteit, afmeting enz.) en aan waarneming van het aardopeervlak in verschillende spectrale banden (de zogenaamde Remote Sensing). Onwikkelen van dergelijke scanners is echter meer dan het aan elkaar koppelen van objectied, detector en computer. Per geval dient een scansysteem zorgvuldig ten opzichte van de specificaties ontwikkeld te worden. Dit artikel licht eerst de algemene aspecten toe betreffende het scannen, de meetnauwkeurigheid, de optische probleematiek en de detectoreigenschappen, vervolgens komen een aantal “praktijk”- voorbeelden aan de orde, die de verschillende toepassingsmogelijkheden van detector-arrays illustreren.


References

Wim van der Hoek Award…

This year, the jury has received four nominations for students who applied existing or new design principles in their graduation work in an exciting manner.

Read more
Over 350 exhibitors, 6 themes…

The 2024 edition has six central themes: Mechatronic Engineering & Systems, Metrology, Vacuum & Clean, Micro Processing & Motion, Laser & Photonics, and Production for High Precision.

Read more
Nonlinear control takes over?

The ever increasing demands on precision and throughput in semiconductor manufacturing machines challenge today's linear control designs.

Read more