Meerkanaals interferometer voor defectdetectie

Materials Optics Sensors
Fotonica nr. 4, 1997 by A.L. Weijers, H. van Brug, H.J. Frankena 27 April 2006

In het kader van een promotie-onderzoek is een real time fasegestapte shearing spikkelinterferometer ontwikkeld. Met dit systeem kunnen defecten gedetecteerd worden in o.a. composiet materialen. Zulke materialen worden steeds populairder in de vliegtuigindustrie. Uit veiligheidsoverwegingen moeten deze materialen regelmatig getest worden op mogelijke defecten, zoals delaminaties en inslagschades.Om fysiek contact tussen object en meetsysteem te voorkomen, kunnen optische technieken gebruikt worden.


References

Lunch Lecture December hosted by…

Due to private circumstances the lunch lecture will be cancelled today. More information about when we organize this lecture again will follow soon.

Read more
Company visit YPN at Settels…

Our next company visit has been confirmed and will take place at Settels Savenije, located in Eindhoven, on Tuesday 17th of December. A perfect opportunity for networking just before Christmas.

Read more
Jan-Pieter Rijstenbil (TU Eindhoven) receives…

Prize for careful process analysis and early validation. During the 23rd edition of the Precision Fair in Den Bosch (NL), the Wim van der Hoek Award was presented under the auspices of DSPE (Dutch Society for Precision Engineering).

Read more