Meerkanaals interferometer voor defectdetectie

Materials Optics Sensors
Fotonica nr. 4, 1997 by A.L. Weijers, H. van Brug, H.J. Frankena 27 April 2006

In het kader van een promotie-onderzoek is een real time fasegestapte shearing spikkelinterferometer ontwikkeld. Met dit systeem kunnen defecten gedetecteerd worden in o.a. composiet materialen. Zulke materialen worden steeds populairder in de vliegtuigindustrie. Uit veiligheidsoverwegingen moeten deze materialen regelmatig getest worden op mogelijke defecten, zoals delaminaties en inslagschades.Om fysiek contact tussen object en meetsysteem te voorkomen, kunnen optische technieken gebruikt worden.


References

Lunch Lecture April hosted by…

Theme: Concept optimization of system dynamics of a wafer metrology tool

Read more
Historical view on determinism and…

Paralleling the historical beginnings of modern science, assessing and addressing variation in physical systems constitutes the foundation of precision engineering. Tycho Brahe gave us the measurement data to analyse the heavens.

Read more
Sensor for picometer-scale positioning in…

As technology reaches the atomic and quantum scale, sub-nanometer motion control is no longer optional – it is a necessity, often in vacuum environments where even the smallest disturbances are effectively suppressed.

Read more