Een fase gestapte interferometer met verscheidene optische kanalen voor metingen van vervormingen

Optics
Fotonica nr. 6, 1994 by A.J.P. van Haasteren, A.L. Weijers, H.J. Frankena 27 April 2006

Fase gestapte interferometrie is een techniek waarmee verplaatsingen of vervormingen van een voorwerp gemeten kunnen worden. Door het object monochromatisch te belichten en het gereflecteerde licht te laten interfereren met een coherente hulpbundel (de referentiebundel) wordt een interferentie patroon gegenereerd. De huidige technieken zijn echter gevoelig voor externe verstoringen zoals luchtstromingen, temperatuurveranderingen en trillingen. Vanwege deze beperkingen is een interferometer ontwikkeld die bestaat uit verscheidene optische kanalen waardoor de inteferogrammen tegelijkertijd kunnen worden opgenomen.


References

May 30 DSPE Knowledge day…

Please be invited to the upcoming DSPE Knowledge Day at Settels Savenije Eindhoven.

Read more
Lunch lecture May hosted by…

Precision in roll -2- roll electronics

Read more
YPN visited Kulicke & Soffa…

The Young Precision Network (YPN) - part of the DSPE community - organises events for young professionals and students. On Thursday February 1st, YPN organised a visit to Kulicke & Soffa in Eindhoven.

Read more