Een fase gestapte interferometer met verscheidene optische kanalen voor metingen van vervormingen
Fase gestapte interferometrie is een techniek waarmee verplaatsingen of vervormingen van een voorwerp gemeten kunnen worden. Door het object monochromatisch te belichten en het gereflecteerde licht te laten interfereren met een coherente hulpbundel (de referentiebundel) wordt een interferentie patroon gegenereerd. De huidige technieken zijn echter gevoelig voor externe verstoringen zoals luchtstromingen, temperatuurveranderingen en trillingen. Vanwege deze beperkingen is een interferometer ontwikkeld die bestaat uit verscheidene optische kanalen waardoor de inteferogrammen tegelijkertijd kunnen worden opgenomen.