Een fase gestapte interferometer met verscheidene optische kanalen voor metingen van vervormingen

Fase gestapte interferometrie is een techniek waarmee verplaatsingen of vervormingen van een voorwerp gemeten kunnen worden. Door het object monochromatisch te belichten en het gereflecteerde licht te laten interfereren met een coherente hulpbundel (de referentiebundel) wordt een interferentie patroon gegenereerd. De huidige technieken zijn echter gevoelig voor externe verstoringen zoals luchtstromingen, temperatuurveranderingen en trillingen. Vanwege deze beperkingen is een interferometer ontwikkeld die bestaat uit verscheidene optische kanalen waardoor de inteferogrammen tegelijkertijd kunnen worden opgenomen.

Download Fotonica nr. 6, 1994

Back to overview

We use cookies to improve your experience on our website

References

Order of frictions and stiffnesses…

For lumped systems consisting of different frictions and stiffnesses, there has been confusion in literature about hysteresis curves and virtual play for many decades.

Make it clean

In mid-April, the second edition of the Manufacturing Technology Conference and the fifth edition of the Clean Event were held together, for the first time, at the Koningshof in Veldhoven (NL).

Bringing particles to light

Particle contamination monitoring and cleanliness control are fundamental to micromanufacturing processes across diverse industries to achieve cost-effective production of high-quality and reliable microscale devices and components.