De meetlaser

Optics Precision-technology Sensors
Mikroniek 2-1995 by S. Wetzels 27 April 2006

In de precisiemeettechniek probeert men alsmaar de grenzen te verleggen van wat meetbaar is. Met opnemers gebaseerd op capacitieve- of inductieve principes is het mogelijk ongelofelijke resoluties te bereiken, denk bijvoorbeeld aan ruwheidstasters en AFM (Atomic Force Microscope)-tasters. Lengtes in de orde van atoomafstanden zijn al meetbaar. De vraag blijft echter wat men nu precies meet, en hoe de microvolts of microamperes die deze opnemers afgeven te vertalen zijn naar een meetwaarde. Om dit te achterhalen is een kalibratieprocedure noodzakelijk. Het instrument dat dit mogelijk maakt, de meetlaser, wordt hier beschreven.


References

Archive Mikroniek expanded

The archive with Mikronieks is expanded with scanned editions of 1984 – 1990. And can be accessed by Mikroniek-Archive.

Read more
Techcafé | Einstein Telescope (in…

Het Techcafé is de centrale ontmoetingsplaats voor professionals in de hightech- en maakindustrie.

Read more
Order of frictions and stiffnesses…

For lumped systems consisting of different frictions and stiffnesses, there has been confusion in literature about hysteresis curves and virtual play for many decades.

Read more