De meetlaser

In de precisiemeettechniek probeert men alsmaar de grenzen te verleggen van wat meetbaar is. Met opnemers gebaseerd op capacitieve- of inductieve principes is het mogelijk ongelofelijke resoluties te bereiken, denk bijvoorbeeld aan ruwheidstasters en AFM (Atomic Force Microscope)-tasters. Lengtes in de orde van atoomafstanden zijn al meetbaar. De vraag blijft echter wat men nu precies meet, en hoe de microvolts of microamperes die deze opnemers afgeven te vertalen zijn naar een meetwaarde. Om dit te achterhalen is een kalibratieprocedure noodzakelijk. Het instrument dat dit mogelijk maakt, de meetlaser, wordt hier beschreven.

Download Mikroniek 2-1995

Back to overview

We use cookies to improve your experience on our website

References

Order of frictions and stiffnesses…

For lumped systems consisting of different frictions and stiffnesses, there has been confusion in literature about hysteresis curves and virtual play for many decades.

Make it clean

In mid-April, the second edition of the Manufacturing Technology Conference and the fifth edition of the Clean Event were held together, for the first time, at the Koningshof in Veldhoven (NL).

Bringing particles to light

Particle contamination monitoring and cleanliness control are fundamental to micromanufacturing processes across diverse industries to achieve cost-effective production of high-quality and reliable microscale devices and components.