De meetlaser

Optics Precision-technology Sensors
Mikroniek 2-1995 by S. Wetzels 27 April 2006

In de precisiemeettechniek probeert men alsmaar de grenzen te verleggen van wat meetbaar is. Met opnemers gebaseerd op capacitieve- of inductieve principes is het mogelijk ongelofelijke resoluties te bereiken, denk bijvoorbeeld aan ruwheidstasters en AFM (Atomic Force Microscope)-tasters. Lengtes in de orde van atoomafstanden zijn al meetbaar. De vraag blijft echter wat men nu precies meet, en hoe de microvolts of microamperes die deze opnemers afgeven te vertalen zijn naar een meetwaarde. Om dit te achterhalen is een kalibratieprocedure noodzakelijk. Het instrument dat dit mogelijk maakt, de meetlaser, wordt hier beschreven.


References ...

Mikroniek April 2026: Developments in…

The April issue of Mikroniek presents developments in dynamics. The main theme article introduces a bouncing stage concept that can circumvent actuator-force limits in precision positioning.

Read more
Young DSPE visits QED Technologies

The next Young DSPE company visit will take place at QED Technologies. Delft on Thursday 28th of May 2026.

Read more
Lunch lecture June hosted by…

The NASA IRTF Adaptive Secondary Mirror. Speaker: Arjo Bos, Senior Scientist & Expertise Lead Optomechanics

Read more
Intellectual property for engineers

Engineers working in high-tech solve complex technical problems every day. New algorithms, control strategies, hardware architectures, production methods and software tools are constantly being developed inside engineering teams.

Read more