Contactloos meten met behulp van opto-elektronische sensoren en laterale foto-effect detectoren

Micro system technology MEMS/NEMS Precision-technology
Mikroniek 3-2004 by Frank Godschalk, C.S. Kooijman 20 February 2007

De ontwikkelingen richting de nanotechnologie gaan in hoog tempo. Om op nanometerniveau te meten is positionering nodig op submicron niveau. Met behulp van onder andere optische sensoren is dit mogelijk omdat ze in ieder geval contactloos werken. Er zijn kant en klare sensoren te koop, maar zelf bouwen kan ook. De keuze om te meten met PSD’s heeft unieke voordelen ten opzichte van andere middelen. In het nu volgende artikel gaan we dieper in op de opto-electronische sensoren en laterale fotoeffect-detectoren.


References

Lunch lecture May hosted by…

Title: Automated Placement of Micronuts for Laser Spotwelding

Read more
Lunch lecture April hosted by…

The title is: How to deal with eddy current dampers:

Read more
Microcredentials: macro-effect for professionals

This month, the first microcredentials have been awarded to the participants who successfully took part 1 of the course ‘Mechatronics System Design’ by Mechatronics Academy in cooperation with their partner High Tech Institute.

Read more