Scanning Tip microscopie: kijken in de nanowereld

Micro system technology MEMS/NEMS Precision-technology Sensors
Mikroniek 2-1990 by J.J.Baalbergen 27 April 2006

In deze bijdrage zal een nieuwe meettechnologie, de Scanning Tip microscopie besproken worden. Het is de verwachting dat de Scanning Tip microscopie in de toekomstige nanotechnologie een zeer belangrijke rol zal gaan spelen. De techniek zal vergeleken worden met andere meettechnieken, de mechanische meettechniek, de optische meettechniek en de elektronenmicroscopie; tevens zullen afbeeldingen die gemaakt zijn met de Scanning Tip microscopie gegeven worden.


References ...

Going for ECP2 Gold: A journey of technical growth and lifelong learning

In June, Moiz Hyderabadwala, Senior Researcher at ASML Research, received the ECP2 Silver certificate, awarded through the European Certified Precision Engineering Course Programme (ECP2), a collaboration between Euspen and DSPE.

Read more
Mastering thin metal production for mass-manufactured energy systems

The successful transition to a sustainable energy future hinges on the industrialisation of advanced energy-conversion technologies.

Read more
Mikroniek June 2026: Design for Sustainability

The June issue of Mikroniek is devoted to Design for Sustainability. The main theme article presents the challenges of thin metal production for mass-manufactured energy systems.

Read more