Scanning Tip microscopie: kijken in de nanowereld

Micro system technology MEMS/NEMS Precision-technology Sensors
Mikroniek 2-1990 by J.J.Baalbergen 27 April 2006

In deze bijdrage zal een nieuwe meettechnologie, de Scanning Tip microscopie besproken worden. Het is de verwachting dat de Scanning Tip microscopie in de toekomstige nanotechnologie een zeer belangrijke rol zal gaan spelen. De techniek zal vergeleken worden met andere meettechnieken, de mechanische meettechniek, de optische meettechniek en de elektronenmicroscopie; tevens zullen afbeeldingen die gemaakt zijn met de Scanning Tip microscopie gegeven worden.


References

Leading Platform for Systems Engineering

DSPE is uniquely positioned to serve as a central platform for the systems engineering community. By bringing together professionals, experts, and organizations across disciplines, DSPE fosters collaboration, knowledge sharing, and...

Read more
DSPE Knowledgeday on March 18th…

Cryogenic Solutions: Innovation at Extreme Temperatures. Increasing knowledge of materials and constructions for Cryogenic conditions for the members of the DSPE.

Read more
Café Eureka

on February 5th we will organize a next edition of Café Eureka. Our special guests are Chris Werner and Roger Hamelinck. They are both owner of Entechna BV. The theme of this edition is to find out which company suits…

Read more