Prototype-ontwikkeling van een ultra-precisie 3D-coordinaten meetmachine

In de huidige wereld van de precisietchnologie worden producten steeds complexer en hun toleranties steeds hoger. Voor een toenemende klaase van producten wordt een hogere meetnauwkeurigheid verlangd. Hoewel schaalverkleining van conventionele 3D-Coordinaten Meetmachines (CCM) het effect van systemeatische afwijkingen verklient, wordt de oorzaak van deze afwijkingen hierdoor niet geelimineerd. Een principieel hogere nauwkeurigheid kan worden bereikt indien deze afwijkingen worden voorkomen.