Nauwkeurig, herleidbaar en betrouwbaar meten met de F25

Electronics Mechanics
Mikroniek 1 2008 by Marijn van Veghel 10 December 2008

NMi Van Swinden Laboratorium, het nationale standaardeninstituut, ontwikkelt voortdurend nieuwe standaarden, instrumenten en meetmethoden om te voldoen aan de metrologische behoeften van industrie, overheid en maatschappij. Een van de nieuwste faciliteiten op het gebied van dimensionele metrologie is de F25 micro-coör- dinatenmeetmachine (µ-CMM), waarmee producten kunnen worden opgemeten in drie dimensies met onzekerheden van een paar honderd nanometer of minder.


References

Wim van der Hoek Award…

This year, the jury has received four nominations for students who applied existing or new design principles in their graduation work in an exciting manner.

Read more
Over 350 exhibitors, 6 themes…

The 2024 edition has six central themes: Mechatronic Engineering & Systems, Metrology, Vacuum & Clean, Micro Processing & Motion, Laser & Photonics, and Production for High Precision.

Read more
Nonlinear control takes over?

The ever increasing demands on precision and throughput in semiconductor manufacturing machines challenge today's linear control designs.

Read more