Bouw en ontwikkeling van EXAFS-goniometer

Control Mechanics Optics
Mirkoniek 2-1987 by P.Brinkgreve 27 April 2006

De EXAFS-meettechniek -EXAFS staat voor Extended X-Ray Absorption Fine Structure- is een rontgenanalysetechniek door middel van de absorptie van rontgenstraling, die de mogelijkheid biedt om de lokale structuur van zowel kristallijne als amorfe stoffen te bepalen. Informatie kan worden verkregen over afstanden tot (0,01 A), aantallen (+/-20%) en aard van nabuuratomen. De werking van het instrument en de beschrijving van de constructie worden in dit artikel besproken.


References

Lunch Lecture April hosted by…

Theme: Concept optimization of system dynamics of a wafer metrology tool

Read more
Historical view on determinism and…

Paralleling the historical beginnings of modern science, assessing and addressing variation in physical systems constitutes the foundation of precision engineering. Tycho Brahe gave us the measurement data to analyse the heavens.

Read more
Sensor for picometer-scale positioning in…

As technology reaches the atomic and quantum scale, sub-nanometer motion control is no longer optional – it is a necessity, often in vacuum environments where even the smallest disturbances are effectively suppressed.

Read more