Elektronische besturing voor de EXAFS-goniometer

Control
Mikroniek 2-1987 by B.Kranenburg 27 April 2006

In het artikel “Bouw en ontwikkeling van EXAFS-goniometer” (Mikroniek 2-1987) van Ir. P.Brinkgreve wordt de mechanische constructie beschreven van een apparaat dat bedoeld is voor EXAFS metingen in het laboratorium. Deze techniek, die wordt gebruikt om de lokale structuur te bepalen van zowel kristallijne als amorfe stoffen, berust op het meten van de absorptie van rontgenstralen met verschillende golflengtes door een monster van de te onderzoeken stof. Om de absorptie bij verschillende golflengtes te kunnen meten is de in dit en in bovengenoemde artikel beschreven goniometer ontwikkeld. In dit artikel wordt het aandrijfsysteem besproken.

Download Mikroniek 2-1987
Back to overview

References

Mikroniek April 2026: Developments in…

The April issue of Mikroniek presents developments in dynamics. The main theme article introduces a bouncing stage concept that can circumvent actuator-force limits in precision positioning.

Read more
Young DSPE visits QED Technologies

The next Young DSPE company visit will take place at QED Technologies. Delft on Thursday 28th of May 2026.

Read more
Lunch lecture June hosted by…

The NASA IRTF Adaptive Secondary Mirror. Speaker: Arjo Bos, Senior Scientist & Expertise Lead Optomechanics

Read more
Intellectual property for engineers

Engineers working in high-tech solve complex technical problems every day. New algorithms, control strategies, hardware architectures, production methods and software tools are constantly being developed inside engineering teams.

Read more