Elektronische besturing voor de EXAFS-goniometer

Control
Mikroniek 2-1987 by B.Kranenburg 27 April 2006

In het artikel “Bouw en ontwikkeling van EXAFS-goniometer” (Mikroniek 2-1987) van Ir. P.Brinkgreve wordt de mechanische constructie beschreven van een apparaat dat bedoeld is voor EXAFS metingen in het laboratorium. Deze techniek, die wordt gebruikt om de lokale structuur te bepalen van zowel kristallijne als amorfe stoffen, berust op het meten van de absorptie van rontgenstralen met verschillende golflengtes door een monster van de te onderzoeken stof. Om de absorptie bij verschillende golflengtes te kunnen meten is de in dit en in bovengenoemde artikel beschreven goniometer ontwikkeld. In dit artikel wordt het aandrijfsysteem besproken.


References

Our DSPE chairman Hans Krikhaar…

๐—ช๐—ฒ ๐—ฎ๐—ฟ๐—ฒ ๐—ฝ๐—ฟ๐—ผ๐˜‚๐—ฑ ๐˜๐—ผ ๐—ฎ๐—ป๐—ป๐—ผ๐˜‚๐—ป๐—ฐ๐—ฒ ๐˜๐—ต๐—ฎ๐˜ ๐——๐—ฆ๐—ฃ๐—˜ ๐—ฃ๐—ฟ๐—ฒ๐˜€๐—ถ๐—ฑ๐—ฒ๐—ป๐˜ ๐—›๐—ฎ๐—ป๐˜€ ๐—ž๐—ฟ๐—ถ๐—ธ๐—ต๐—ฎ๐—ฎ๐—ฟ ๐—ต๐—ฎ๐˜€ ๐—ฟ๐—ฒ๐—ฐ๐—ฒ๐—ถ๐˜ƒ๐—ฒ๐—ฑ ๐—ฎ ๐—š๐—ฒ๐—ฟ๐—ฎ๐—ฟ๐—ฑ & ๐—”๐—ป๐˜๐—ผ๐—ป ๐—›๐—ถ๐—ด๐—ต ๐—ง๐—ฒ๐—ฐ๐—ต ๐—ฆ๐˜๐—ฎ๐—ฟ ๐—”๐˜„๐—ฎ๐—ฟ๐—ฑ ๐Ÿฎ๐Ÿฌ๐Ÿฎ๐Ÿฒ!

Read more
Lunch lecture February hosted by…

Title: Piezoelectric wafer stage โ€“ for electron beam inspection systems

Read more
Sensitivity analysis in Opto-Mechanical System…

As a mechatronics engineer at VDL ETG Technology & Development in Almelo (NL), Leon Nijenhuis got involved with opto-mechanics when working on aerospace projects. One of his duties was the design of an alignment tool for laser satellite communication.

Read more